보유특허

  • 구분
    등록번호
    등록일자
    명칭
  • 특허
    10-2869805-00-00
    2025.10.01
    결함 검사 장치 및 그 방법
  • 특허
    10-2842748-00-00
    2025.07.31
    금형 검사 장치 및 그 방법
  • 특허
    10-2791629-00-00
    2025.04.01
    프로브 그립핑 모듈 및 그를 이용한 프로브 본딩 방법
  • 상표
    40-2323448-00-00
    2025.02.28
    FinBOX
  • 상표
    40-2323450-00-00
    2025.02.28
    AIVI
  • 특허
    10-2621609-00-00
    2024.01.02
    프로브 핀 본딩 방법, 프로브 핀 본딩 유니트 및 듀얼 타입 프로브 핀 본딩 장치
  • 특허
    10-2646278-00-00
    2024.03.06
    다품종 소량생산에 적용가능한 무인검사 장치 및 이를 이용한 비전검사 방법
  • 특허
    10-2228081-00-00
    2021.03.09
    인쇄물 검사 시스템 및 인쇄물 검사 방법
  • 특허
    10-2254322-00-00
    2021.05.14
    광 간섭 시스템
  • 디자인
    30-1070539-00-00
    2020.08.10
    인쇄 품질검사기
  • 특허
    10-2069647-00-00
    2020.01.17
    광 간섭 시스템
  • 상표
    40-1591415-00-00
    2020.03.31
    AnyLook
  • 특허
    10-1893948-00-00
    2018.08.27
    다채널 광간섭 측정 장치
  • 특허
    10-1941579-00-00
    2019.01.17
    표면형상 측정장치 및 그 제어방법
  • 특허
    10-1941580-00-00
    2019.01.17
    표면형상 측정장치
  • 특허
    10-1941581-00-00
    2019.01.17
    광학식 거리 측정 장치
  • 특허
    10-1799775-00-00
    2017.11.15
    레이저 간섭계 및 이를 이용한 측정방법
  • 특허
    10-1824180-00-00
    2018.02.25
    프로브 핀 자동조립장치
  • 상표
    40-1303911-00-00
    2017.11.14
    루캣