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구분
등록번호
등록일자
명칭
특허
10-2869805-00-00
2025.10.01
결함 검사 장치 및 그 방법
특허
10-2842748-00-00
2025.07.31
금형 검사 장치 및 그 방법
특허
10-2791629-00-00
2025.04.01
프로브 그립핑 모듈 및 그를 이용한 프로브 본딩 방법
상표
40-2323448-00-00
2025.02.28
FinBOX
상표
40-2323450-00-00
2025.02.28
AIVI
특허
10-2621609-00-00
2024.01.02
프로브 핀 본딩 방법, 프로브 핀 본딩 유니트 및 듀얼 타입 프로브 핀 본딩 장치
특허
10-2646278-00-00
2024.03.06
다품종 소량생산에 적용가능한 무인검사 장치 및 이를 이용한 비전검사 방법
특허
10-2228081-00-00
2021.03.09
인쇄물 검사 시스템 및 인쇄물 검사 방법
특허
10-2254322-00-00
2021.05.14
광 간섭 시스템
디자인
30-1070539-00-00
2020.08.10
인쇄 품질검사기
특허
10-2069647-00-00
2020.01.17
광 간섭 시스템
상표
40-1591415-00-00
2020.03.31
AnyLook
특허
10-1893948-00-00
2018.08.27
다채널 광간섭 측정 장치
특허
10-1941579-00-00
2019.01.17
표면형상 측정장치 및 그 제어방법
특허
10-1941580-00-00
2019.01.17
표면형상 측정장치
특허
10-1941581-00-00
2019.01.17
광학식 거리 측정 장치
특허
10-1799775-00-00
2017.11.15
레이저 간섭계 및 이를 이용한 측정방법
특허
10-1824180-00-00
2018.02.25
프로브 핀 자동조립장치
상표
40-1303911-00-00
2017.11.14
루캣